《近代X射线多晶体衍射——实验技术与数据分析》
（马礼敦著， 化学工业出版社，2002）的第一章。
第一章 绪论----X射线多晶体衍射的发展历程
X射线多晶体衍射(X-ray polycrystalline diffraction, XPD)，也称X射线粉末衍射(X-
ray powder diffraction, XPD)，是由德国科学家德拜(Debye)、谢乐(Scherrer)[1,2]
在1916年提出的。当时正值第一次世界大战，信息交流受阻，美国科学家Hull在1917年
又独立提出了这一方法[3]。所谓多晶体衍射或粉末衍射是相对于单晶体衍射来命名的，
在单晶体衍射中，被分析试样时一粒单晶体，而在多晶体衍射中被分析试样时一堆细小
的单晶体(粉末)。由于当时X射线的应用主要在解晶体结构，因此初期发展得并不快。
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世纪30年代中期，Hanawalt和Rinn提出了用多晶体衍射在混合物中鉴定化合物的方法[4]
，接着又提出了包含1000种化合物参比谱的数据库[5]，使X射线多晶体衍射成为表征多
晶体聚集体结构的重要手段，开创了X射线多晶体衍射应用的新领域，吸引了很多人的注
意，得到了较快的发展。40年代后期，基于光子计数器的衍射仪的发展，大大提高了衍
射谱的质量，包括衍射峰位置、强度和线形的测量准确性。因而，拓展了它的应�*************************妫�
如通过对衍射峰强度的准确测量，使物相分析从定性发展到定量；通过对衍射峰峰形(也
称衍射线线形)的分析来测定多晶体聚集体的某些性质，如晶粒尺寸、外形和尺寸分布等
；在此基础上，又进一步发展到研究晶体的真实结构，如研究存在于晶粒内的微应变、
缺陷和堆垛层错等，使X射线多晶体衍射技术成为最重要的材料表征技术之一。20世纪
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年代，同步辐射强光源和计算机技术的应用，使得多晶体衍射技术更有了突飞猛进。另
一方面，数字衍射谱的获得，Rietveld全谱拟合技术的应用，使得数据分析方法有了新
的突破，这大大提高了所得结果的质量，其数据已成为改进材料的必需信息，并且使得
用多晶体衍射从头解晶体结构成为可能。X射线多晶体衍射是一门有近90年历史的科学，
可也是一门尚在发展中的科学，其前途十分广阔，它已经成为许多研究机构及工厂实验
室的必备仪器。
X射线多晶体衍射法的发展大体上可以分为三个阶段。
